AOI瑕疵檢查量測機
靠AOI檢出的位置數據加上高倍率與大視野選取瑕疵後>拍照，即可完成，滑鼠滾動來放大影像，節省的人力成本，不言可喻！
比較
- 一般顯微鏡
以這50um的黑點為例：人眼幾乎無法辨識位置，且精度太高，人員需要先從低倍率＞中＞高依序操作鏡頭，才能正確標記到瑕疵「費時、耗力」。
- Review系統
靠AOI檢出的位置數據加上高倍率與大視野選取瑕疵後>拍照，即可完成，滑鼠滾動來放大影像，節省的人力成本，不言可喻！
ReView系統配件規格
- 彩色兩千萬畫素
- TOYO無塵滑軌
- LED環形光源
- 超高精度1.5um
- 高解析影像
實現低雜訊出色的影像品質，確保取像最小的細節，以利複雜的影像分析。 - 錐形匯聚
形成圓形、高亮度的照明區域涵蓋待測物，消除死角，提高視覺檢測效果。
AOI系統客製化配置
第一站（選配）
- 精度10um/pixel
- 單色CCD群
第二站（選配）
- 精度20um/pixel
- 彩色CCD群
AOI瑕疵不同精度比較圖
系統示意圖
AOI Review系統攝像頭
AOI Review 檢查機
