铜箔表面检测系统

铜箔表面重大缺陷及周期性缺陷检出,并将缺陷作分类统计。协助异常排除达到质量及量产并重,并可根据瑕疵类型进行制程改善及研发。

系统信息

应用范围

电解铜箔、压延铜箔、FCCL、RCC铜箔、铝箔等薄膜卷装工业表面外观检测

检测项目

针孔、铜屑、氧化、锈斑、垫伤、粒铜、刮伤、杂质、褶皱、结晶等

检测方式

以高解析线性CCD进行高速动态卷装制程检测,以增加收益

检测速度

线速最高可达120 m/min

显示方式

瑕疵图片显示及音效、灯光或自动标签粘贴警示

检验精度

最小精度:表面10 μm、针孔5 μm

瑕疵现象对照

M污染

M粒铜

M电镀缺陷+污染

S托线污染

S氧化